Yt- och materialanalys

Lärandemål

Efter godkänd kurs ska studenten kunna:

• motivera och diskutera val av analysmetod genom att jämföra prestanda för, och bedöma lämplighet av, olika metoder utifrån en given frågeställning,
• kritiskt bedöma val av metod och slutsatser i vetenskapliga artiklar där metoder för avbildning och analys använts för att lösa specifika frågeställningar,
• beskriva principerna för ytanalys med ett antal metoder, inkluderande röntgen-, elektron-, jon-, vibrations- och optisk spektroskopi, samt beskriva konstruktionen av vissa instrument,
• förklara och jämföra möjlig information från, och prestanda för, olika metoder för ytanalys utifrån växelverkan mellan aktiverande strålning (t.ex. elektroner, joner, eller röntgen) och provyta och utifrån inställningar och prestanda hos instrumentet,
• beskriva principerna för djupprofilanalys med jonetsning/sputtering och för provpreparering med fokuserad jonstråle (FIB),
• beskriva principen för transmissionselektronmikroskopi (TEM), samt vilken typ av information och analysresultat denna metod kan ge.