Logga in

Registrera

TFYM04 · Linköpings universitet

Tillväxt och karakterisering av nanomaterial

Ny kurs

Kom igång gratis

Inga tentor än

Ladda upp dina tidigare tentor och få hjälp med att strukturera ditt studiematerial

Få dina tentauppgifter kategoriseradeBli guidad genom ditt studiematerialFå hjälp direkt med teori och tipsHåll koll på dina framsteg

Kurs info

KurssidaKursplan
HP
6
Språk
Engelska
Nivå
Avancerad nivå
Fakultet
Tekniska fakulteten
Institution
Institutionen för fysik, kemi och biologi

Lärandemål

Kursen ska ge kunskap om mekanismer och processer för tillväxt av tunna filmer framställda genom ångdeponering samt fördjupade kunskaper om principerna för de moderna fysikaliska mätmetoder som används inom dagens avancerade materialforskning. En översikt av olika syntesmetoder för filmtillväxt samt industriella tillämpningar av dessa filmer är också inkluderade i kursen. Efter kursen ska studenten kunna:

  • redogöra för grundläggande atomistiska mekanismer och processer som kontrollerar tillväxt och mikrostrukturell utveckling hos tunna filmer samt förklara inverkan av olika processförhållanden på tunnfilmstillväxten.
  • redogöra för principerna bakom växelverkan mellan fasta material och elektromagnetisk strålning, elektroner och joner, och hur detta kan tillämpas för diffraktion och för att erhålla kontrast.
  • dra slutsatser om de olika teknikernas tillämpbarhet samt redogöra för hur de olika analysmetoderna kompletterar varandra vid grundläggande materialanalys.
  • analysera och dra slutsatser från erhållna mätdata.
  • sammanställa de resultat som erhållits via de olika analysteknikerna i form av en vetenskaplig artikel.
Kursinnehåll
Föreläsningarna avhandlar kondensation och adsorption av atomer, ytor och ytdiffusion, epitaxi och olika tillväxtsätt, nukleation och sammanslagning, samt tillväxt och mikrostrukturell utveckling av polykristallina filmer. En laboration på tunnfilmstillväxt ingår. För karakterisering av tunna filmer studeras växelverkan mellan fasta material och elektromagnetisk strålning, elektroner och joner. Principerna för och användningen av materialanalysteknikerna röntgenspektroskopi (XPS), röntgen- och elektrondiffraktion (XRD och ED), elektronmikroskopi (SEM och TEM), samt energi-dispersiv röntgenanalys (EDX) gås igenom vid föreläsningar och laborationer.
Förutsättningar
  • Fasta tillståndets fysik.
Litteratur
Laborationskompendier
Föreläsningsanteckningar
Liknande kurser vid andra universitet
Kungliga Tekniska högskolan

Kungliga Tekniska högskolan

Material- och energibalanser

KE106015 tentor
Kungliga Tekniska högskolan

Kungliga Tekniska högskolan

Introduktion till datorsystemteknik

EP120014 tentor
Kungliga Tekniska högskolan

Kungliga Tekniska högskolan

Introduktion till industriell ekonomi

ME131412 tentor
Redo att boosta dina studier?

Gör som 15 000+ studenter och ta kontroll över ditt tentaplugg.

Kom igång gratis

Produkt

  • Priser

  • Karriär

Företag

  • Om oss

  • Blogg

  • Användarvillkor

  • Integritet

  • Support

Universitet

  • KTH

  • Uppsala universitet

  • Linköpings universitet

  • Chalmers

  • Lunds universitet

  • Luleå tekniska universitet

  • Stockholms universitet

  • Gymnasiet

Socialt

  • Instagram

  • Facebook

  • YouTube

  • TikTok

  • Linkedin

© 2026 Crash Course Sverige AB