beskriva funktionen hos de tekniker som introduceras i kursen.
förklara principerna bakom varje teknik.
beskriva tillämpningsområdet för varje teknik.
analysera typiska karakteriseringsdata erhållna från de diskuterade teknikerna.
Kursinnehåll
Karakterisering på nanoskala: grundläggande princip och funktion hos AFM och SEM.
Optisk spektroskopi: FTIR, UV-vis m fl.
Fotoelektronspektroskopi och synkrotronbaserad. röntgenabsorptionsspektroskopi (NEXAFS): grundläggande bakgrund, exempel på tillämpningar och dataanalys.
Mekanisk karakterisering: Introduktion till materials mekaniska egenskaper och tillämpningar av reometri.
Elektrisk karakterisering: Introduktion till grundläggande karakteriseringsmetoder och tillämpningar.
Karakterisering av funktionella material: introduktion till piezo-/pyroelektriska material och funktionella enheter samt karakteriseringsmetoder för dessa.
Finit elementanalys och komponentmodellering.
Förutsättningar
Tillträdeskrav till programmet.
Litteratur
Experimental Techniques in Principles and Methodologies Physics and Materials Science: Principles and Methodologies - Srinivasan, R., Ramesh, T.G.